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高功率激光器PER測試解決方案

摘要:Santec 的偏振消光比測試儀 PEM-340可提供高功率的PER測試解決方案

  隨著流量高速增長,相干技術會繼續(xù)下沉,相干光模塊的市場空間還是非常廣闊, 相干光模塊的研發(fā)和生產仍然會是產業(yè)的一個新的方向和熱點。

  相干光模塊發(fā)送端的ITLA激光器市場需求也在加大, 偏振消光比(PER)是ITLA眾多測試需求中必不可少的一項,然而測試工程師面臨的一個難點就是PER測試設備的入射功率通常在10dBm以內,因此,工程師需要額外增加一路分光器來滿足測試設備入射功率的限制。更重要的是, 光路中增加的光器件會引入更多的不確定性,并造成測試精度的惡化。

  如何解決呢?

  Santec 的偏振消光比測試儀 PEM-340可提供高功率的PER測試解決方案。PEM-340 高功率選項,入射光功率最高可達20dBm, 高功率激光器可以直接輸出到測試設備,完美解決之前需要引入其他分光器件的難度。

激光器PER測試搭建

PEM-340 性能指標

內容來自:santec 圣德科
本文地址:http://m.3xchallenge.com//Site/CN/News/2023/02/03/20230203082956426023.htm 轉載請保留文章出處
關鍵字: 激光器 PER 相干 偏振消光比
文章標題:高功率激光器PER測試解決方案
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