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Dimension:高性能免纏繞插回?fù)p測試方案

摘要:維度科技的高性能免纏繞插回?fù)p測試方案,采用自研的高性能光源和高精度光功率計,很好地解決了插回?fù)p測試中經(jīng)常遇到的諸如測試效率低、測試范圍小、需要纏繞、不能測量較短光纖等問題,具有前所未有的易用性和突出優(yōu)勢,是目前單芯、MPO光纖跳線、連接器及其他無源器件插回?fù)p性能測試的理想選擇。

  ICC訊 維度科技的高性能免纏繞插回?fù)p測試方案,采用自研的高性能光源和高精度光功率計,很好地解決了插回?fù)p測試中經(jīng)常遇到的諸如測試效率低、測試范圍小、需要纏繞、不能測量較短光纖等問題,具有前所未有的易用性和突出優(yōu)勢,是目前單芯、MPO光纖跳線、連接器及其他無源器件插回?fù)p性能測試的理想選擇。

 

  附:接口選型列表:

 

  更多詳情:http://www.dimension-tech.com

內(nèi)容來自:深圳維度科技 微信公眾號
本文地址:http://m.3xchallenge.com//Site/CN/News/2020/04/10/20200410010936666567.htm 轉(zhuǎn)載請保留文章出處
關(guān)鍵字: 維度科技 測試方案
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