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聯(lián)訊儀器推出53Gbaud PAM4時鐘恢復單元

摘要:聯(lián)訊儀器推出53Gbaud PAM4時鐘恢復單元CR6256,為400G/800G光模塊測試提供新的選擇,也為其眼圖測試系列產(chǎn)品增加新成員。

  ICC訊 2022年2月17日,聯(lián)訊儀器(Stelight Instrument)宣布推出53Gbaud PAM4/NRZ時鐘恢復單元CR6256,為400G/800G光模塊測試提供新的選擇,也為其眼圖測試系列產(chǎn)品增加新成員。

  根據(jù)市場調(diào)研機構(gòu)LightCounting 2021年最新預測,2022年-2026年,全球200G/400G光模塊市場規(guī)模,年復合增長率(CAGR)分別達到20%和16%。隨著網(wǎng)絡流量呈現(xiàn)爆發(fā)式增長,2022年200G光模塊數(shù)量會翻3倍,達到6.58億美金,400G光模塊數(shù)量會翻1倍,達到17億美金。這些高速光模塊,光口側(cè)已經(jīng)逐步從單波28Gbaud向53GbaudPAM4進行轉(zhuǎn)變,未來53Gbaud PAM4將成為主流。

  用于評估高速信號波形質(zhì)量的采樣示波器需要與數(shù)據(jù)信號同步的時鐘信號觸發(fā),在28Gbaud速率及以下速率光模塊眼圖測量中,雖然行業(yè)標準(如圖1 IEEE802.3cd規(guī)范要求的TDECQ一致性測試框圖)一直推薦采用標準時鐘恢復單元(CRU)從信號中提取時鐘作為采樣示波器的同步觸發(fā)。但是考慮到成本,大部分光模塊用戶還沿用原來的驅(qū)動光模塊的誤碼儀時鐘輸出作為采樣示波器外部觸發(fā)。其原因在于低速光模塊基本上都采用基于模擬電路實現(xiàn)的內(nèi)置時鐘鎖定(以下簡稱CDR),其延時比較小,比較容易保證輸入和輸出信號的同步,因此采用誤碼儀時鐘觸發(fā)(圖4)和采用時鐘恢復單元提取時鐘觸發(fā)采樣示波器測試眼圖差異不大。

圖1 IEEE802.3cd 規(guī)范要求眼圖測試框圖(CRU時鐘恢復單元)

圖2 內(nèi)置模擬CDR的光模塊可以采用誤碼儀時鐘觸發(fā)測試眼圖

(4x25GNRZ或者4x28Gbaud PAM4)

  但隨著符號速率進一步提升到53Gbaud,光模塊內(nèi)部芯片都是采用基于DSP技術的數(shù)字CDR對信號進行整形,而數(shù)字DSP CDR的時延相對于模擬CDR高一千倍,其高時延特性難以保證輸入信號和輸出信號之間的相位匹配,也就是說改變了光口測信號相位,使得驅(qū)動光模塊誤碼儀的時鐘輸出已經(jīng)不能滿足光口側(cè)53Gbaud PAM4信號眼圖測試同步要求。

圖3 內(nèi)置數(shù)字DSP CDR的光模塊必須要時鐘恢復提取時鐘

(4x56Gbaud或8x56Gbaud PAM4)

  在這種情況下,使用時鐘恢復從數(shù)據(jù)信號中生成觸發(fā)信號成為了必須。不過,53Gbaud速率PAM4時鐘恢復單元,原先只有美國、日本3家測試儀表公司具備相關產(chǎn)品,其測試成本非常高,限制了200G/400G光模塊大規(guī)模批量生產(chǎn)對降低成本的需求。

圖4 聯(lián)訊儀器眼圖測試及時鐘恢復單元系列產(chǎn)品

  為了解決此問題并幫助降低開發(fā)和制造成本,聯(lián)訊儀器在2020年推出的CR6201 28Gbaud PAM4時鐘恢復單元基礎上,提升速率,最新推出CR6256 53Gbaud PAM4時鐘恢復單元,該產(chǎn)品可以從53Gbaud PAM4光信號中提取時鐘,可以配合業(yè)界標準采樣示波器使用,成為針對單波106Gbps(53Gbaud PAM4)光眼圖測試時鐘提取的又一個選擇。

圖5 53Gbaud 信號CR6256時鐘提取后眼圖(TDECQ=1.51dB)

圖6 26Gbaud 信號CR6256時鐘提取后眼圖(TDECQ=1.04dB)

  聯(lián)訊儀器CR6256 功能特點:

  · 多速率:支持50~53Gbaud/25~28Gbaud速率時鐘提取,完全能夠滿足200G/400G和未來800G光模塊的測試要求;

  · 符合IEEE802.3以太網(wǎng)、光纖通道及OIF標準規(guī)范對TDECQ指標的要求;

  · 使用便捷:可以方便快捷地配合業(yè)內(nèi)其它采樣示波器一起使用,內(nèi)置觸摸屏顯示和控制,無需外部電腦可以實現(xiàn)時鐘恢復所有功能;

  ·  高靈敏度:-14dBm@26.5625Gbaud/-12dBm@53Gbaud(PRBS15,TDECQ=2.0dB)十分利于硅光這種小光功率下的應用場景;

圖7 CR6256時鐘恢復單元靈敏度

(輸入功率對26Gbaud PAM4信號TDECQ的影響)

圖8 CR6256時鐘恢復單元靈敏度

(輸入功率對53Gbaud PAM4信號TDECQ的影響)

  · TDECQ測試結(jié)果一致性高:完全可以滿足53Gbaud PAM4信號TDECQ測試要求;

  · 多種調(diào)制信號:支持PMA4 和NRZ 不同的調(diào)制模式;

  · 支持單?;蚨嗄#阂慌_時鐘恢復單元可以同時支持單?;蚨嗄P盘枙r鐘提取;

  · 內(nèi)置光功率監(jiān)測:支持輸入光功率實時監(jiān)控;

  · 時鐘自動鎖定:支持時鐘鎖定判斷指令,同時自動完成鎖定判斷;

  · 多種分頻輸出:支持1/2、1/4、1/8輸出時鐘分頻輸出,可以配合業(yè)界各種采樣示波器對觸發(fā)帶寬的要求;

  · 遠程控制:支持上位機遠程控制指令。

  關于聯(lián)訊儀器

  蘇州聯(lián)訊儀器有限公司成立于2017年3月,是一家主要從事光通信測試儀器和半導體測試儀器的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售及服務的企業(yè),專業(yè)為客戶提供高質(zhì)量、高技術的測試儀器及其整體解決方案。產(chǎn)品主要應用于數(shù)據(jù)中心、接入網(wǎng)、5G承載網(wǎng)、物聯(lián)網(wǎng)核心光電芯片、器件、模塊測試測量等領域??梢蕴峁┑脑O備包括高速通信測試儀器(光采樣示波器、高速誤碼儀和流量分析儀)、激光器芯片測試設備(激光器芯片測試機,激光器晶圓測試機)和半導體芯片測試設備(高精度數(shù)字源表,半導體芯片測試機)等,實現(xiàn)了對光電測試細分領域產(chǎn)品線全產(chǎn)業(yè)鏈覆蓋,并填補了國內(nèi)高端測試裝備的諸多空白。

  科技創(chuàng)新是聯(lián)訊儀器的立足之本。公司以“不斷填補中國高端光電測試儀表和設備空白, 打破國際壟斷”為使命,經(jīng)過持續(xù)的自主研發(fā)和獨立創(chuàng)新,逐步成為國內(nèi)專業(yè)的覆蓋光通信芯片→器件→模塊→設備光通信測試全產(chǎn)業(yè)鏈的綜合供應商,贏得了百余家國內(nèi)外知名客戶的認可,已成為國內(nèi)在該領域國產(chǎn)替代的主力。公司先后獲評國家創(chuàng)新人才推進計劃科技創(chuàng)新創(chuàng)業(yè)人才企業(yè)、中國潛在獨角獸企業(yè)、江蘇省專精特新小巨人企業(yè)、江蘇省“雙創(chuàng)計劃”等諸多資質(zhì)榮譽。2022伊始,聯(lián)訊榮膺“融資中國2021年度中國最具成長性企業(yè)TOP30”,繼續(xù)領跑光通信測試。

  關鍵字:聯(lián)訊儀器 Stelight Instrument 時鐘恢復單元 PAM4 眼圖 TDECQ

  關于聯(lián)訊儀器的更多信息,請訪問 www.stelight.com,或通過以下方式聯(lián)系:

  聯(lián)系人:楊建 18660298596、鄧寒 18626132729、張紀 18971473511

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關鍵字: 聯(lián)訊儀器 Stelight Instrument 時鐘恢復單元 PAM4 眼圖 TDECQ
文章標題:聯(lián)訊儀器推出53Gbaud PAM4時鐘恢復單元
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