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EXFO完成收購EHVA | PIC測試端到端集成全自動,更高效!

摘要:通信業(yè)測試、監(jiān)測與分析專家 EXFO 公司近日完成了對 EHVA 的收購,此次收購將加快 EXFO 在 PIC 測試方面的創(chuàng)新,從而提供自動、完整的端到端測試解決方案,滿足從實驗室研發(fā)到高速量產(chǎn)等多個環(huán)境對光器件的測試要求。

  ICC訊 通信業(yè)測試、監(jiān)測與分析專家 EXFO 公司近日完成了對 EHVA收購。

  EHVA 是一家總部位于加拿大魁北克市的創(chuàng)新型光子集成電路(PIC)和系統(tǒng)自動化公司。此次收購將加快 EXFOPIC 測試方面的創(chuàng)新,從而提供自動、完整的端到端測試解決方案,滿足從實驗室研發(fā)到高速量產(chǎn)等多個環(huán)境對光器件的測試要求。

  EHVA 將智能制造技術(shù)與從晶圓到單器件的測試功能結(jié)合起來,為 PIC 測試與生產(chǎn)等應(yīng)用提供可擴展的解決方案。該公司與多家光子行業(yè)全球領(lǐng)導(dǎo)者以及加拿大拉瓦爾大學(xué)的光學(xué)、光子學(xué)和激光中心(COPL)保持密切合作。

  目前,在各種應(yīng)用中采用的 PIC 設(shè)計多種多樣,且缺少 PIC 技術(shù)標(biāo)準(zhǔn),這為自動化測試帶來了更多挑戰(zhàn)。EHVA 的流程軟件套件將 EXFO 的先進(jìn)掃描連續(xù)激光掃描技術(shù)無縫集成到客戶的制造設(shè)置中,提供全自動的解決方案,實現(xiàn)高效、可靠的測試,從而幫助客戶避免生產(chǎn)瓶頸。

  通過收購 EHVAEXFO 可提供端到端的集成解決方案,從而很好地應(yīng)對全球 PIC 市場的指數(shù)級增長需求。

  EXFO PIC 測試解決方案

  由于光模塊和無源器件急速發(fā)展,光子集成電路(PIC)比分立光器件(bulk optics)更小、更快、更便宜且更環(huán)保。從商業(yè)和研究的角度來看,PIC 也在其它領(lǐng)域(如芯片實驗室、激光雷達(dá)技術(shù)或量子計算)開始發(fā)力。

  多年來,EXFO 一直與快速發(fā)展的 PIC 行業(yè)內(nèi)的相關(guān)企業(yè)密切合作,共同開發(fā)自動、可擴展、快速、精準(zhǔn)且成本低的測試與測量(T&M)硬件和軟件解決方案,包括從簡單的光測試到光譜鑒定或流量分析的多種功能,并能夠與第三方設(shè)備(如晶圓片處理系統(tǒng))互通

  EXFO 加入多個聯(lián)盟組織,如 AIM Photonics、EPIC、LUX Photonics 和 Optica,與全球主要廠商合作,提供集成的 PIC 測試解決方案。

   靈活、精準(zhǔn)、快速測試 PIC

應(yīng)該獲取哪些光譜測試功能?

如何才能獲得 PIC 流量分析功能?


測 試 有 源 光 器 件

  通常可以使用光譜分析儀(OSA)測試 PIC 上的激光器和放大器等有源器件。這種通用的測試儀表能夠測量光源的光譜信號(如下圖所示)。

  先進(jìn)的 OSA,如 OSA20 具有測試速度快的優(yōu)點,能夠以2000 nm/s的速度,每秒完成五次掃描,這足以進(jìn)行實時的器件校準(zhǔn),且分辨率非常高,可以測量關(guān)鍵的參數(shù),如 OSNR 和 SMSR。

測 試 無 源 器 件

  CTP10 是一個模塊化的器件測試平臺,可在掃描時以皮米級分辨率和70 dB的動態(tài)范圍鑒定高端口數(shù)設(shè)備的光譜特性,速度可達(dá)100 nm/s。CTP10 的工作波長范圍從1240到1680 nm,涵蓋包括電信、傳感和激光雷達(dá)在內(nèi)的一系列應(yīng)用。它采用電子設(shè)備和內(nèi)部處理器,使數(shù)據(jù)傳輸變得輕而易舉??梢允褂?SCPI 命令遠(yuǎn)程控制 CTP10,在進(jìn)行自動化 PIC 測試設(shè)置的過程中,讓集成變得更加簡單方便,從而提高 PIC 測試的效率并縮短測試時間。

  要鑒定輸出端口數(shù)量比較有限的 PIC 器件,可以使用更加緊湊的 CT440。CT440 具有與 CTP10 相同的波長精準(zhǔn)度和光譜覆蓋范圍,可以進(jìn)行 IL/PDL 測量。

  EXFO 新品 T200S 高速可連續(xù)調(diào)諧激光器是研發(fā)和測試光子集成電路與光器件的必備工具。它適用于需要快速、連續(xù)地調(diào)諧波長的各種應(yīng)用,能夠以高功率和高速度進(jìn)行掃描并在固定波長上具備出色的線寬。

  CTP10 能夠充分發(fā)揮 T200S 的性能,以 200 nm/s 的速度進(jìn)行掃描。

可 重 構(gòu) 測 試

  在測試單個晶圓上的數(shù)百甚至數(shù)千個器件時,自動化會變得非常關(guān)鍵。這尤其是因為光學(xué)功能可能因設(shè)備或芯片而異。因此,PIC 測試解決方案需要使用自動的光開關(guān)來解決快速重構(gòu)測試的問題。此外,更加簡單的單點測試也可能有助于提高測試與測量(T&M)流程的整體速度。

  EXFO FTBx 系列模塊為簡單的激光器 + 功率計測試配置提供光測試設(shè)備,可添加衰減器、開關(guān)或不同類型的光源。MXS 矩陣開關(guān)可滿足快速、可重復(fù)地重構(gòu)測試的需求,能夠在幾分之一秒內(nèi)切換到新的測試配置。

基于PIC的光模塊:流量分析

  端到端的光模塊驗證需要一整套高端的光、電測試儀。為了幫助光模塊廠商確保其產(chǎn)品在整個生命周期內(nèi)都符合相關(guān)要求,EXFO 提供了一系列涵蓋從晶圓級測試到封裝測試各個階段的光、電測試解決方案,包括 EA-4000采樣示波器BA-4000誤碼率分析儀。

  打造一款全面的 PIC 測試解決方案需要多個領(lǐng)域的專業(yè)知識。EXFOPIC 生態(tài)系統(tǒng)內(nèi)的行業(yè)領(lǐng)導(dǎo)者實施重大合作項目,以驗證硬件和軟件的互通性。為了確保測試解決方案的整體性能最佳,EXFO 與 MPI Corporation、Aerotech 和 FormFactor 等高精度晶圓定位系統(tǒng)的主要供應(yīng)商合作。

  EXFO 的所有儀表都可以完全自動化,并與第三方軟件集成商(如EHVA、OptiInstrument和Maple Leaf Photonics)的產(chǎn)品結(jié)合起來,成為整體的解決方案。

?完整解決方案

用于對 PIC 進(jìn)行自動化晶圓級測試

  關(guān)于 EXFO

  EXFO為全球通信行業(yè)開發(fā)更智能的測試、監(jiān)測與分析解決方案。我們是可信賴的顧問,客戶包括固定和移動網(wǎng)絡(luò)運營商、超大規(guī)模數(shù)據(jù)中心以及生產(chǎn)與研發(fā)領(lǐng)域的領(lǐng)導(dǎo)者。我們?yōu)榭蛻籼峁┳吭降木W(wǎng)絡(luò)性能、服務(wù)可靠性和用戶體驗洞察力。EXFO以35年的創(chuàng)新為后盾,將設(shè)備、軟件和服務(wù)新穎獨特地組合起來,使客戶能夠更加迅速、可靠地完成5G、云原生和光纖網(wǎng)絡(luò)的升級改造。

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