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可編程光開關(guān)解決方案

摘要:業(yè)界領(lǐng)先的光通信檢測設(shè)備和解決方案供應(yīng)商Dimension為光學(xué)自動(dòng)化測試系統(tǒng)提供了系列高性能OSW光開關(guān)模塊,這些模塊非常適用于實(shí)驗(yàn)室或高嚴(yán)格的制造生產(chǎn)環(huán)境,配合Dimension的通用光學(xué)測試平臺,OSW光開關(guān)可以在程序控制下自動(dòng)路由光信號,支持對多通道和多個(gè)光學(xué)器件進(jìn)行并行測量,顯著減少測試時(shí)間,從而提升測試儀器的使用效率,降低整體測試成本,是自動(dòng)化測試的理想光開關(guān)解決方案。

  ICCSZ訊 光開關(guān)在任何自動(dòng)化光學(xué)測試系統(tǒng)中有著不可替代的重要作用,是其中的核心器件,可以實(shí)現(xiàn)多個(gè)光學(xué)測試對象或者多種光學(xué)性能的自動(dòng)化測試,避免因多次插拔光連接器而造成各種測量不確定性。

  業(yè)界領(lǐng)先的光通信檢測設(shè)備和解決方案供應(yīng)商Dimension為光學(xué)自動(dòng)化測試系統(tǒng)提供了系列高性能OSW光開關(guān)模塊,這些模塊非常適用于實(shí)驗(yàn)室或高嚴(yán)格的制造生產(chǎn)環(huán)境,配合Dimension的通用光學(xué)測試平臺,OSW光開關(guān)可以在程序控制下自動(dòng)路由光信號,支持對多通道和多個(gè)光學(xué)器件進(jìn)行并行測量,顯著減少測試時(shí)間,從而提升測試儀器的使用效率,降低整體測試成本,是自動(dòng)化測試的理想光開關(guān)解決方案。

  OSW光開關(guān),可編程,具有多種光開關(guān)切換觸發(fā)方式,高可重復(fù)性達(dá)到1000萬次,MEMS光開關(guān)超過10億次;低插入損耗和低偏振相關(guān)損耗,通道一致性好;切換時(shí)間短至幾個(gè)ms;平臺+模塊化的設(shè)計(jì),支持多種控制方式,具有很好的易用性和擴(kuò)展性。OSW光開關(guān)模塊分機(jī)械式和MEMS兩類,主要應(yīng)用于光路切換、光環(huán)路保護(hù)和切換、光纖網(wǎng)絡(luò)遠(yuǎn)程監(jiān)控、光器件測試和研究等。非常適合于科研院所及公司新品研發(fā)、實(shí)驗(yàn)室、自動(dòng)化產(chǎn)線等測試需要。

 完全可編程的解決方案,支持多種觸發(fā)方式

  OSW光開關(guān)通過編程功能可以靈活設(shè)置光路切換觸發(fā)方式,可以通過外部 TRIG信號,等待設(shè)定時(shí)間或者觸摸屏、實(shí)體按鍵等多種方式觸發(fā)光開關(guān)切換,為后續(xù)自動(dòng)化程序開發(fā)靈活提供各種接口。

  高可重復(fù)性,切換次數(shù)1000萬次

  OSW光開關(guān)的切換次數(shù)可以達(dá)到1000萬次,MEMS光開關(guān)可以達(dá)到10億次。插入損耗隨機(jī)切換100次的重復(fù)性小于0.02dB,為用戶提供高度可靠的光路。

  低插入損耗,低偏振相關(guān)性,通道一致性好

  各通路插入損耗小于1.0dB,偏振相關(guān)損耗小于0.05dB。

  創(chuàng)新的平臺+模塊化設(shè)計(jì),支持多種控制方式

  Dimension的通用光學(xué)測試平臺+模塊化的一站式光學(xué)測試系統(tǒng),提供了一整套的光學(xué)測試解決方案。雙槽位ALPHA光學(xué)測試平臺和11槽位OMEGA光學(xué)測試平臺,可以兼容包含OSW光開關(guān)在內(nèi)多種功能測試模塊,具有可熱插拔、可編程、可擴(kuò)展性強(qiáng)、易于維護(hù)和管理、綜合成本低等顯著優(yōu)勢。支持網(wǎng)絡(luò)、USB、觸摸屏和實(shí)體按鍵多種控制方式。

  性能參數(shù)



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