光纖微裂紋檢測(cè)儀使G-lens長(zhǎng)度測(cè)量更精確

  ICC訊 昊衡科技推出的光纖微裂紋檢測(cè)儀，可用于光器件、光模塊、硅光芯片等器件的高精度長(zhǎng)度測(cè)量，分辨率可達(dá)1微米，是國(guó)產(chǎn)裂紋檢測(cè)儀中的佼佼者。

圖1. 光纖微裂紋檢測(cè)儀

  G-lens是自聚焦透鏡，一種折射率分布沿徑向漸變的柱狀光學(xué)透鏡。自聚焦透鏡的分布沿徑向逐漸減小，能夠使沿軸向傳輸?shù)墓猱a(chǎn)生連續(xù)折射，從而實(shí)現(xiàn)出射光線平滑且連續(xù)的匯聚到一點(diǎn)，下面是用OLI對(duì)G-lens長(zhǎng)度的測(cè)量。

圖2. 單波長(zhǎng)漸變折射率透鏡(G-lens)與插芯耦合示意圖

  端面為斜8°的單波長(zhǎng)漸變折射率透鏡(G-lens)與帶光纖的插芯耦合在一起，測(cè)量G-lens長(zhǎng)度。

圖3. 實(shí)際示意圖

      測(cè)試結(jié)果如圖4所示，第一個(gè)峰值為插芯與G-lens耦合面反射峰，第二個(gè)峰值為G-lens尾端反射峰，測(cè)試結(jié)果中dx=2.9mm為G-lens光程長(zhǎng)度，是在折射率為n1=1.467(設(shè)備默認(rèn)折射率)下測(cè)得，而G-lens的實(shí)際折射率為n2=1.6，則G-lens的實(shí)際長(zhǎng)度為L(zhǎng)=dx*n1/n2=2.66mm。

圖4. OLI測(cè)量結(jié)果

  OLI光纖微裂紋檢測(cè)儀可以精確定位整個(gè)掃描范圍內(nèi)的回波損耗，實(shí)現(xiàn)微米級(jí)光纖鏈路或光學(xué)器件的微損傷檢測(cè)。

  昊衡科技

  Megasense

  一家集研發(fā)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售于一體的高科技公司，專業(yè)從事工業(yè)級(jí)自校準(zhǔn)光學(xué)測(cè)量與傳感技術(shù)開(kāi)發(fā)，也是國(guó)內(nèi)唯一一家實(shí)現(xiàn)OFDR技術(shù)商用化的公司。目前，昊衡科技已推出多款高精度高分辨率產(chǎn)品，主要應(yīng)用于光學(xué)鏈路診斷、光學(xué)多參數(shù)測(cè)量、高精度分布式光纖溫度和應(yīng)變傳感測(cè)試。已與全球多個(gè)國(guó)家和地區(qū)企業(yè)建立良好的合作關(guān)系，并取得諸多成果。電話：027-87002165官網(wǎng)：http://www.mega-sense.com/