Multilane針對(duì)高速wafer ATE測(cè)試方案

  ICC訊 MultiLane總部位于黎巴嫩，創(chuàng)立于2006年。MultiLane是數(shù)據(jù)通信領(lǐng)域高速接口測(cè)試和數(shù)據(jù)中心測(cè)試方案的提供商。產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、數(shù)通等產(chǎn)品驗(yàn)證測(cè)試。作為高速測(cè)試行業(yè)的領(lǐng)導(dǎo)者，MultiLane將其領(lǐng)先的誤碼儀和數(shù)字采樣示波器集成到Advantest 的 V93000 ATE 測(cè)試機(jī)臺(tái)，以支持更高速率芯片的測(cè)試，高度集成的BERT和DSO提供32個(gè)通道的測(cè)試能力，最高可達(dá)112 Gbps PAM4和35GHz輸入帶寬。利用這一獨(dú)特的集成方案，可以進(jìn)行數(shù)字和模擬FT以及CP 測(cè)試,包括serdes測(cè)試、發(fā)射機(jī)、放大器、具有高速 I/O 的 ASIC 以及其他有源和無(wú)源高速設(shè)備。以太網(wǎng)、HDMI、USB 3/4、PCIe5/6、光纖通道等測(cè)試都可以支持。BERT 和示波器還可用于 IC 驗(yàn)證、檢定和生產(chǎn)測(cè)試。

  其中針對(duì)TIA的CP和FT測(cè)試方案，目前已經(jīng)成功運(yùn)用于全球領(lǐng)先的TIA芯片制造商產(chǎn)線測(cè)試，產(chǎn)線普及率遍及北美，新加坡，馬來(lái)西亞，臺(tái)灣。國(guó)內(nèi)也已經(jīng)有領(lǐng)先的TIA芯片廠商開始引入此方案進(jìn)行小批量生產(chǎn)測(cè)試, ATE自動(dòng)化測(cè)試方案，完美解決了TIA CP測(cè)試中探測(cè)的難點(diǎn)問(wèn)題。

  Multilane ATE測(cè)試系統(tǒng)主要由Family Board, HSIO Card Cage, ML Instrument Cassettes ，DUT Loadboard 或Probe Card四個(gè)部分組成，F(xiàn)amily Board 兼容CTH, STH Test Head，并引出93000本身的測(cè)試資源。HSIO Card Cage讓Pogo Pin通過(guò)到達(dá)DUT， ML Instrument Cassettes 是高速BERT 或DSO 或AWG儀器，是這套系統(tǒng)的關(guān)鍵。DUT  Board根據(jù)是FT 或 CP的應(yīng)用 在Docking方向及細(xì)節(jié)上稍有不同。Multilane ATE Solution 能夠分別對(duì)serdes Tx 或 Rx進(jìn)行測(cè)試，快速定位問(wèn)題。具有覆蓋范圍廣，測(cè)試時(shí)效高，穩(wěn)定性高等特點(diǎn)。軟件方面 ML Instrument 提供API接口，V93000 Smartest 可以對(duì)Instrument進(jìn)行設(shè)置，讀取結(jié)果等操作。

  為更好地服務(wù)國(guó)內(nèi)客戶，2023年MultiLane Inc 與上海澤豐半導(dǎo)體科技有限公司簽署了《戰(zhàn)略合作框架協(xié)議》。雙方本著互惠互利、實(shí)現(xiàn)雙贏的目標(biāo)，在平等自愿的前提下就高速ATE測(cè)試方案達(dá)成戰(zhàn)略合作。

  DSO 有多種內(nèi)建的 filters 如 Bessel-Thomson, CTLE, DFE, FFE等，并且可以De-embed, embed 探針及fixture PCB trace等的S參數(shù)。能夠?qū)π盘?hào)路徑的每個(gè)部分分別進(jìn)行精準(zhǔn)的Calibration控制。搭配澤豐性能優(yōu)異的Probe Card。是wafer級(jí) characterization 及快速產(chǎn)測(cè)的理想方案。

  關(guān)于MultiLane：

  MultiLane是數(shù)據(jù)通信領(lǐng)域高速接口測(cè)試和數(shù)據(jù)中心測(cè)試方案的提供商。覆蓋到早期的10 G到前沿的800 G以太網(wǎng)，主要產(chǎn)品包括誤碼儀、任意波形發(fā)生器(AWG)、光/電口采樣示波器、時(shí)域反射計(jì)（TDR）、QSFP-DD, OSFP等其他各種封裝形式的主機(jī)、模塊一致性測(cè)試夾具、環(huán)回模塊、適配器與分析儀等。產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、DAC銅纜、AOC光纜、有源線纜、光模塊、和交換機(jī)產(chǎn)品驗(yàn)證測(cè)試。我們的創(chuàng)新步伐緊跟行業(yè)快速變化的需求。

  同時(shí)為幫助行業(yè)客戶加速產(chǎn)品開發(fā)部署進(jìn)程，Multilane也提供一致性測(cè)試服務(wù)，信號(hào)完整性設(shè)計(jì)服務(wù)等，另外Multilane的高速ATE 模組搭配ATE測(cè)試機(jī)臺(tái)，已廣泛應(yīng)用于wafter級(jí)的全自動(dòng)化測(cè)試，了解更多信息請(qǐng)?jiān)L問(wèn)Multilane官網(wǎng) www.multilaneinc.com

  或咨詢中國(guó)區(qū)銷售經(jīng)理：林瑤  13621907413